Měření a zkoušky

Domů » Služby » Měření a zkoušky

Proč

Měřením a analýzami měníme domněnky ve fakta. Teprve na jejich základě je možno učinit kvalifikovaná rozhodnutí, která vedou co nejrychleji a nejbezpečněji k danému cíli.

Jak

Rozsáhlé experimentální vybavení nám umožňuje měřit širokou škálu fyzikálních či chemických veličin v různých prostředích. Tradiční silné znalostní zázemí univerzit a ústavů akademie věd zajišťuje odbornou interpretaci výsledků.

Co

Rozsah analytických metod pokrývá mechanické, korozní či chemické zkoušky, optickou i elektronovou mikroskopii, strukturní analýzu a podobně, zkrátka od roztrhání tahových tělísek po spolupráci na objevu Higgsova bosonu.

Příklad: Analýza adheze ochranné vrstvy

Jako příklad může sloužit analýza mechanické odolnosti ochranné tenké vrstvy připravené v NCK MATCA sloužící jako cenná zpětná vazba při kontrole kvality i materiálovém vývoji.

1. Při vrypové zkoušce je testovaná vrstva opakovaně vystavena definovanému tlaku hrotu pohybujícího se po povrchu vzorku po definované dráze. Tlak na hrot je postupně zvyšován až do úmyslného poškození vrstvy.

Na snímku je vidět ochranná vrstva nanesená na ocelový substrát a vystavená destruktivní vrypové zkoušce.

2. Pomocí vysokého zvětšení skenovacího elektronového mikroskopu je možno analyzovat charakter selhání vrstvy.

Uprostřed snímku je zachycena krycí vrstvička platiny nanesená až v mikroskopu za účelem ochrany vzorku při hloubení příkopu fokusovaným iontovým svazkem, který umožní tvorbu příčného řezu zkoumané vrstvy.

3. Pomocí fokusovaného iontového svazku je do vzorku vyhlouben příkop, jehož zadní stěna zachycuje příčný řez zkoumanou vrstvou.

Dobrou adhezi dokazuje i přítomnost fragmentů ochranné vrstvy vtlačených hluboko do zdeformovaného ocelového substrátu.

4. Příčný řez zachycuje ocelový substrát, kompozitní ochrannou vrstvu a platinové krytí, které brání poškození. vzorku při hloubení příkopu fokusovaných iontovým svazkem.

Na snímku jsou jasně patrná zrna ocelového substrátu a jednotlivé vrstvy kompozitního povlaku.

5. Detail příčného řezu zkoumané vrstvy ukazuje dobrou adhezi i v těsné blízkosti porušené vrstvy. Tloušťka kompozitní vrstvy dosahuje cca 700 nm.

Přímo ve skenovacím elektronovém mikroskopu je možno provést i chemickou či strukturní analýzu zkoumaných vzorků.

Máte dotaz?

Možnosti analytických metod dostupných v NCK MATCA jsou příliš široké na to, aby tu mohly být všechny shrnuty. Pokud vás napadají otázky stran konkrétní aplikace, neváhejte se nám ozvat.

Chci znát odpověď na svůj dotaz

Související technologie

Skenovací elektronový mikroskop (SEM)

Skenovací (řádkovací) elektronový mikroskop (SEM) je stejně jako každý jiný mikroskop optický přístroj, který na rozdíl od běžných světelných mikroskopů využívá jako zdroj záření elektrony namísto fotonů a elektromagnetických čoček namísto čoček skleněných. Celý vnitřní prostor mikroskopu, jak samotný elektronový svazek, tak i vzorek, jsou ve vakuu, aby nedocházelo k interakci elektronů s vnější atmosférou. Pro studium či analýzu povrchu vzorku využíváme interakce elektronového svazku se vzorkem, čímž získáváme celou řadu informací, ať už mikrostrukturu, krystalografické uspořádání, či chemické složení a jiné. Více >>

Dostupné v rámci NCK MATCA:
FIB-SEM – Tescan FERA3 GM, FIB-SEM – FEI Quanta 3D FEG, SEM – Tescan MAIA3, SEM – FEI Phenom, SEM – FEI/Philips 30XL

Energiově disperzní spektrometrie (EDS)

Energiově disperzní spektrometrie (EDS) je analytická metoda založená na detekci charakteristického rentgenového záření vzniklého interakcí elektronového paprsku s povrchem zkoumaného vzorku. Z energií takto vzniklých fotonů získáváme EDS spektrum, ze kterého je možné určit jednotlivé prvky zastoupené ve vzorku a jejich množství. EDS detektory jsou obvykle součástí SEM či TEM. Více >>

Dostupné v rámci NCK MATCA:
EDS – FIB-SEM – Tescan FERA3 GM, EDS – FIB-SEM – FEI Quanta 3D FEG, EDS – S/TEM – FEI Tecnai F20 X-twin